Opis opreme

Celoten sistem sestavljajo:

• SEM (JEOL JSM 6490LV): vakuumska komora za vzorec, stolp z izvorom elektronov (W katoda), elektromagnetne leče in odklonske tuljave ter detektorji signalov (SE, BSE),
• EDS (INCA PentaFETx3 detektor in INCA Energy 350 mikroanalizni sistem),
• Sistem za pripravo vzorcev Baltec SCD 050.

Pripravi vzorcev pred analizo je namenjen sistem Baltec SCD 050 za naprševanje z zlatom in naparevanje z ogljikom.

Tehnični podatki:

• ločljivost: visoki vakuum: 3,0 nm (30 kV), 8,0 nm (3 kV), 15 nm (1 kV); nizki vakuum: 4,0 nm (30 kV),
• povečava: ×5 – ×300.000,
• pospeševalna napetost: 0,3 kV – 30 kV,
• premik mizice za vzorce: X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 5 mm – 80 mm, nagib: −10° – +90°, vrtenje: 360°,
• tlak v nizko vakuumskem načinu: 1 – 270 Pa,
• EDS detektor: Si(Li), 30 mm2 površina detektorja, ločljivost 133 eV pri MnKa, ultra tanko polimerno okno (ATW2) detektorja.

Uporaba/projekti/članki

SEM/EDS uporabljamo na različnih področjih geologije pa tudi za druge aplikacije:

• paleontološke preiskave,
• sedimentno-petrološke preiskave,
• preiskave premogov,
• mineraloške preiskave materialov,
• geokemične raziskave medijev okolja,
• druge aplikacije: analize sintetičnih vlaken, arheoloških artefaktov.

Najem opreme

Snemanje in meritve na SEM/EDS izvajajo usposobljeni operaterji GeoZS po predhodnem dogovoru s skrbnikom tudi za zunanje naročnike in v sodelovanju z uporabniki storitev.