Oprema 

 

Vrstični elektronski mikroskop z energijskim spektrometrom (SEM/EDS)

V začetku leta 2008 smo na Geološkem zavodu Slovenije pridobili novo analizno napravo, ki omogoča proučevanje oblike površine ter kvalitativno in semi-kvantitativno kemično mikroanalizo materialov. To je vrstični elektronski mikroskop (SEM) z energijsko disperzijskim spektrometrom rentgenskih žarkov (EDS).

Zgradba in princip delovanja SEM/EDS:

SEM/EDS je sestavljen iz vakuumske komore z vzorcem, stolpa z izvorom elektronov, elektromagnetnimi lečami in odklonskimi tuljavami ter detektorjev signalov (SE, BSE, EDS).

Pri interakciji izostrenega snopa elektronov, ki se premika po vzorcu, in atomov v vzorcu nastanejo različni signali, kot so sekundarni elektroni(SE), povratno sipani elektroni(BSE) in RTG-žarki, ki dajejo različne informacije o vzorcu:

  • SE dajejo sliko površine vzorca
  • BSE so odvisni od atomskega števila elementov v vzorcu in dajejo sliko relativne kemijske sestave vzorca.
  • RTG-žarki dajejo informacije o elementarni sestavi vzorca.

Aplikacije SEM/EDS na Geološkem zavodu Slovenije uporabljamo na različnih področjih geologije.

Preberi več

Sistem za izdelavo geoloških zbruskov in poliranih preparatov (Logitech)

Oprema služi za razrez, fino brušenje in poliranje vseh vrst geoloških materialov, od vezanih do nevezanih. Izdelujemo standardne preparate za petrografske, sedimentološke in paleontološke raziskave, kakor tudi polirane preparate za raziskave z optičnim in elektronskim mikroskopom.

Zbruske in polirane preparate izdelujemo za zunanje naročnike po ceni 18 EUR za zbrusek, 20 EUR za poliran preparat in 35 EUR za poliran zbrusek. Priprava poliranih preparatov iz nevezanih materialov zalitih v vezivni masi stane 35 EUR/vzorec.

Preberi več

Oprema za geofizikalne meritve v vrtinah

Karotažna oprema se uporablja za meritve parametrov v vrtinah, ki so zanimivi za hidrogeologijo: temperatura (°C), električna prevodnost (mS/cm), naravni gama (API), kratka in dolga normalna upornost, lastni potencial, točkovna upornost. Z omenjeno opremo je mogoče meriti določene spremembe v kanalu vrtine (dotoke vode, kaverne, spremembe litološke sestave ipd).

S pridobivanjem izkušenj in glede na potrebe naročnikov pa je sta bili z lastnimi sredstvi kupljeni še sondi za merjenje premera, odklona in azimuta vrtin in sonda za merjenje dotokov vode v vrtino. Kot zelo uporabna pa se je izkazala tudi video kamera, ki ob ustreznih pogojih - vidljivosti, prikaže najbolj verodostojno »sliko« dogajanj v posamezni vrtini: poškodbe cevitev, kaverne...

Preberi več

Oprema za izvajanje visokoresolucijskih refleksijskih seizmičnih raziskav

Oprema je namenjena za raziskave plitvih do srednje globokih podpovšinskih geoloških struktur, ugotavljanje prisotnosti strukturnih elementov (prelomov, gub, ...), geometrije plasti oz. sedimentov ter vodonosnikov. Uporaba za namene strukturno-geološke interpretacije, ugotavljanje struktur vodonosnikov v hidrogeologiji in inženirsko-geološke aplikacije.

Oprema je na voljo zunanjim uporabnikom, vendar je za njeno uporabo potrebna izurjena ekipa operaterjev in terenskih sodelavcev. Cena se oblikuje glede na tip projekta, zahtevnost raziskave in terenske razmere.

Preberi več

Merilniki toplotne prevodnosti kamnin in drugih slabo prevodnih materialov (gradbenih materialov)

MTP-1 merilnik

Leto izdelave: 1982/83.
Merilni obseg: 0,5 do 10 W/(m K)
Natančnost (srednja napaka meritev): boljša kot 8%.
Ponovljivost: boljša kot 5%.
Trajanje meritve: do 180 sek.
Velikost vzorcev: min dolžina 13 cm, min širina 6 cm, min debelina 2 cm.
Vzorec mora imeti vsaj eno površino povsem ravno (ne nujno polirano) v velikosti 13 x 6 cm.
Temperaturno območje uporabe: sobna temperatura.



MTP-4 merilnik

Leto izdelave: 1984.
Merilni obseg: 0,5 do 10 W/(m K)
Točnost rezultatov: boljša od 10%.
Ponovljivost: boljša kot 5%.
Trajanje meritve: do 320 sek., min 40 sek.
Velikost vzorcev: min dolžina 12 cm, min širina 6 cm, min debelina 2 cm.
Vzorec mora imeti vsaj eno površino povsem ravno (ne nujno polirano) v velikosti 12 x 6 cm.
Temperaturno območje uporabe: sobna temperatura.
Opomba: Merilnika MTP-1 in MTP-4 sta ustrezna za trdne in sipke (zrnate) snovi.

Merilnik TCS z optičnim skeniranjem

Leto proizvodnje in nabave: okt. 2006, jan. 2007
Merilni obseg: 0,2 do 25 W/(m K)
Natančnost in točnost rezultatov: 3% (za verjetnost zaupanja 0,95).
Ponovljivost (reproducibilnost): boljša od 5%.
Hitrost in trajanje meritve: do največ 60 vzorcev na uro (odvisno od dolžine vzorcev).
Velikost vzorcev: 40 do 504 (654) mm, s katerokoli dano obliko, vendar vsaj ena površina ne sme imeti hrapavost večjo od ± 0,5 mm
Žaganje in poliranje vzorcev ni potrebno.
Temperaturno območje uporabe: sobna temperatura.

Preberi več